直流电阻测试仪如何接线？
三通道测量接线：（YN绕组的同时测量）接线将电源线以及地线可靠连接到直阻仪上，然后把随机附带的测试线连接到直阻仪面板与其颜色相对应的输入输出接线端子上，将测试线末端的测试钳夹到待测变压器绕组两端，并用力摩擦接触点，以确保接触良好。直流电阻测试仪测量电流通常为:1A,3A,5A,10A,20A,30A等不同测量档位,仪器由恒流电源和电压信号检测两部分组成,五位液晶数字显示。输出电流档可调，适于各种中小型变压器的直阻测量。扩展资料：注意事项1、在测量完感性负载时不能直接拆掉测试线，以免由于电感放电危及测试人员和设备的安全。本机的输出端设有放电电路。关闭输出时，电感会通过仪器泄放能量。一定要在放电指示完毕后才能拆掉测试线。2、对于无载调压变压器，不允许测量过程中切换分接开关。3、 测量过程中如果电源突然断电，本机会自动开始放电，请不要立刻拆卸接线，至少等待30秒钟后才可拆卸接线。4、测量时，其他未测试的绕组请勿短路接地，否则会导致变压器充磁过程变慢，数据稳定时间延长。5、开机前请检查电源电压:交流220V土10%50Hz。参考资料：百度百科-直流电阻测试仪
什么是四探针电阻率测试仪？
四探针电阻率测试仪其实从专业角度来说，就是高温四探针测量系统。该系统包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量软件。三琦高温四探针测量系统是为了满足材料在高温环境下的阻抗特性测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台、高温四探针夹具、电阻率测试仪和高温电阻率测量系统软件四个组成部分。高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温四探针夹具提供待测试样品的测试平台；电阻率测试仪则负责测试参数数据。最后，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、参数测量、图形数据显示与数据分析于一体的高温电阻率测量系统。
四探针电阻率测试仪主要是测什么电阻率的？
四探针电阻率测试仪也有很多种，例如高温的或者常温的，不同的四探针电阻率测试仪针对不同的材料测量的参数也是不同的。举例，高温四探针电阻率测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。HRMS-800高温四探针电阻率测试仪就是，主要测量的参数就是半导体材料的电阻、电阻率、方块电阻等。
测量薄层电阻为什么要用四探针法
意思就是要用欧姆表去直接测量. 欧姆表就是自身产生一个弱电流, 去测量探针两端的电压, 然后和自身的体电阻比较, 最后给出电阻值. 但是这对于半导体是不准确的, 半导体电阻无法用两根探针测量的主要原因是:
1．接触电阻的影响严重。探针与半导体接触产生一定厚度的耗尽层，耗尽层是高阻的, 另外探针和半导体之间不像与金属之间一样很好的接触, 还会产生一个额外的电阻, 称为扩展电阻，两者都是接触电阻，通常都很大. 半导体的实际电阻相对于它们越小, 测量结果就越不准确.
2．存在少子电注入.
专用方法：四探针法, 两根探针输入测量电流, 另外两根探针测量电压分布.
要是懂电流计, 电压计和电阻计的原理, 就能更明白了.
实在不行换一个 或者在硬之城上面找找这个型号的资料
请问一下测硅料电阻率四探针的工作原理是什么，还有测硅料P/N的工作原理 谢谢
四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。
与四探针法相比，传统的二探针法更方便些，因为它只需要操作两个探针，但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一，电阻两端有两个探针接触，每个接触点既测量电阻两端的电流值，也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值，总电阻值：
RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT；
其中RW是导线电阻，RC是接触电阻，RDUT是所要测量的电阻器的电阻，显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法，即四探针法。如图二，电流的路径与图一中相同，但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压，但由于电压计的内阻很大，通过电压计的电流非常小，因此，导线电压与接触电压可以忽略不计，测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。
四探针法通过采用四探针法取代二探针法，尽管电流所走的路径是一样的，但由于消除掉了寄生压降，使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后，变得十分普及，命名为四探针法。
四探针法测量材料电阻哪些因素能够使实验结果产生误差
和你的测量方法，实验器材等很多因素有关了。造成误差的主要原因有系统误差和随机误差，而系统误差有下列情况：视差、刻度误差、磨耗误差、接触力误差、挠曲误差、余弦误差、阿贝 (Abbe) 误差、热变形误差等。系统误差的大小在测量过程中是不变的，可以用计算或实验方法求得，即是可以预测，并且可以修正或调整使其减少。误差分析可是一门学问哦
四探针电阻率和方块电阻的测量结果的误差来源有哪些?
四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。 目前半导体集成电路迅猛发展，带动相关测试技术发展。随着集成度的提高，器件尺寸的不断缩小，晶圆尺寸的增大，要求测试系统的测量精度、稳定性、分析和数据处理的能力不断提高。半导体电阻率测量应用广泛，在进口测量设备非常昂贵下，国产四探针方块电阻、电阻率测试系统市场很好，开发先进的四探针方块电阻测试系统很有意义。
四探针测试仪哪家好？
找四探针测试仪，就找佰力博科技！
佰力博HRMS-800高温四探针测量系统用于研究高温条件下材料的导电性能，该系统可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其它导电薄膜的方块电阻，设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于高温、真空及气氛条件下测试半导体材料电学性能。
功能特点：
1.可以测量高温、真空、气氛下薄膜方块电阻和薄层电阻率；
2.软件、触摸屏、高温炉等集成于一体，可以进行可视化操作；
3.可实现纯净气氛条件下的测量；同时保证探针在高温下不氧化；
4.真空下可精准调节探针距离；要求采用碳化钨探针，耐温600℃；
5.可自动调节样品测试电压，探针和薄膜接触无火花现象；
6.控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度；
7.可配套使用Keithley2400源表；如果需要测量范围扩展的话，可以配置Keithley2182纳伏表，可以测量更低的半导体或导体材料。
[企业回答]哪里有高温四探针测试仪？
高温四探针测试仪找佰力博！佰力博HRMS-800高温四探针测试仪专用于研究高温条件下材料的导电性能，该系统可以测量硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其它导电薄膜的方块电阻，设备按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，专用于高温、真空及气氛条件下测试半导体材料电学性能。
佰力博电阻测量系列：高温四探针测量系统、高温绝缘电阻率测量系统、气敏电阻测量系统。
佰力博自主研发介电、压电、铁电系列材料物理性能表征和测量设备，更多产品信息，欢迎来电咨询！
太阳能电池片为什么有细栅线?
因为丝网印刷的原因。太阳电池经过制绒、扩散及PECVD等工序后，已经制成PN结，可以在光照下产生电流，为了将产生的电流导出，需要在电池表面上制作正、负两个电极。制造电极的方法很多，而丝网印刷是目前制作太阳电池电极最普遍的一种生产工艺。对于太阳能电池来说，为了获得尽可能高的光电转化效率，对电池的结构必须进行详细设计。金属栅线负责把电池体内的光生电流引到电池外部。太阳电池栅线的最优设计是以电池总功率损耗最小为依据的。栅线结构设计得好，将使电池的串联电阻最小，从而使功率损耗最小、输出功率最大，这对大面积功率输出的单体太阳能电池尤为重要。工艺上细栅线宽度的减小可以使所需的最佳细栅线间距减小，可以很大程度上减少顶层横向电流总相对功率损耗和细栅线遮光相对功率损耗，从而减少电极引起的总的功率损耗。为了提高方阻的同时，降低由于电极引起的功率损耗，就需要增加细栅线条数、减小细栅线宽度。扩展资料丝网印刷是采用压印的方式将预定的图形印刷在基板上，该设备由电池背面银铝浆印刷、电池背面铝浆印刷和电池正面银浆印刷三部分组成。其工作原理为：利用丝网图形部分网孔透过浆料，用刮刀在丝网的浆料部位施加一定压力，同时朝丝网另一端移动。油墨在移动中被刮刀从图形部分的网孔中挤压到基片上。由于浆料的粘性作用使印迹固着在一定范围内，印刷中刮板始终与丝网印版和基片呈线性接触，接触线随刮刀移动而移动，从而完成印刷行程。参考资料来源：百度百科-太阳能电池片
